Сравнительная оценка рассеиваемой мощности накопителей КМОП статических оперативных запоминающих устройств
Электроника
Abstract
При разработке сверхбольших интегральных схем комплементарных металлокисел-полупроводник (КМОП) запоминающих устройств оценка рассеиваемой мощности является неотъемлемой частью их проектирования. Проведен сравнительный анализ рассеиваемой мощности накопителей на основе различных схемотехнических решений построения запоминающих ячеек при использовании библиотеки с технологическими нормами SAED EDK в 28 нм.