МЕТОД ИССЛЕДОВАНИЯ УСЛОВИЙ ВОЗНИКНОВЕНИЯ МУАРОВЫХ КАРТИН В РЕНТГЕНОВСКИХ ИНТЕРФЕРОМЕТРАХ

МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ

Abstract

Разработана методика исследования условий возникновения рентгеновских муаровых картин и их наблюдения в кристаллических системах. Определены признаки возникновения муаровых картин при первичных плоских волнах. Показано, что для получения муаровых картин необходимо облучать отражающие плоскости последнего кристалла системы с обеих сторон в угловой области отражения под углами, отличающимися от точного угла Брэгга. Исследованы также вопросы возникновения и наблюдения муаровых картин в двухкристальных интерферометрах. Показано, что
обычными методами невозможно наблюдать за муаровыми картинами, вызванными поворотами атомных плоскостей вокруг оси, перпендикулярной вектору обратной решетки и плоскости рассеяния. Разработан метод определения поворотов атомных плоскостей вокруг всех трех осей и изменения межплоскостных расстояний.