ДИФРАКЦИОННЫЙ МИКРОРЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ МЕТОД ИССЛЕДОВАНИЯ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ

МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ

Аннотация

Приведены результаты экспериментальных и теоретических исследований, выполненных посредством рентгенодифракционных картин, полученных от двухкристальной или трехкристальной системы и от толстого поглощающего кристалла. Рассчитан период полос интерференционных картин, полученных от двухкристальной системы. Получено выражение для вычисления коэффициента линейного увеличения при наличии кристалла-увеличителя. Доказано, что кристалл-увеличитель не вносит новой информации в интерференционную картину, а только увеличивает ее угловые
размеры в плоскости рассеяния, что дает возможность наблюдать тонкую структуру рентгеноинтерференционных картин.