ДИФРАКЦИОННЫЙ МИКРОРЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ МЕТОД ИССЛЕДОВАНИЯ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ
МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Keywords:
муаровая картина, толстый кристалл, двухкристальная система, трехкристальная система, дифракционный увеличитель.
Abstract
Приведены результаты экспериментальных и теоретических исследований, выполненных посредством рентгенодифракционных картин, полученных от двухкристальной или трехкристальной системы и от толстого поглощающего кристалла. Рассчитан период полос интерференционных картин, полученных от двухкристальной системы. Получено выражение для вычисления коэффициента линейного увеличения при наличии кристалла-увеличителя. Доказано, что кристалл-увеличитель не вносит новой информации в интерференционную картину, а только увеличивает ее угловые
размеры в плоскости рассеяния, что дает возможность наблюдать тонкую структуру рентгеноинтерференционных картин.
