ОБРАЗОВАНИЕ РЕНТГЕНОВСКОГО МУАРА КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ РЕШЕТОК. РЕНТГЕНОВСКИЕ ИНТЕРФЕРОМЕТРЫ
ОБЗОРНЫЕ СТАТЬИ
Keywords:
ротационный, дилатационный и смешанныe рентгеновские муары, двукратные двух- и трехкристальный интерферометры, линии сегрегации, линии смещения.
Abstract
Излагаются современные представления об условиях образования картин муара, возникающих при последовательной дифракции быстрых электронов или рентгеновских лучей в кристаллических системах. Проведены стереометрические исследования несовершенств кристаллов с применением кратных интерферометров. Показаны недостатки обычных рентгенодифракционных и рентгеноинтерферометрических методов исследования несовершенств кристаллов. Предлагается совершенный метод стереометрической топографии с целью выявления дефектов в монокристаллах. Экспериментально показано, что кратными интерферометрами можно обнаружить и линии сегрегации, и полосы смещения, и муаровые картины различных несовершенств.