ОБРАЗОВАНИЕ РЕНТГЕНОВСКОГО МУАРА КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ РЕШЕТОК. РЕНТГЕНОВСКИЕ ИНТЕРФЕРОМЕТРЫ

ОБЗОРНЫЕ СТАТЬИ

Համառոտագիր

Излагаются современные представления об условиях образования картин муара, возникающих при последовательной дифракции быстрых электронов или рентгеновских лучей в кристаллических системах. Проведены стереометрические исследования несовершенств кристаллов с применением кратных интерферометров. Показаны недостатки обычных рентгенодифракционных и рентгеноинтерферометрических методов исследования несовершенств кристаллов. Предлагается совершенный метод стереометрической топографии с целью выявления дефектов в монокристаллах. Экспериментально показано, что кратными интерферометрами можно обнаружить и линии сегрегации, и полосы смещения, и муаровые картины различных несовершенств.