ИССЛЕДОВАНИЕ СМЕЩЕНИЙ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ПОЛОС ПО РАЗНЫМ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИМ НАПРАВЛЕНИЯМ, КАК МЕТОД ОБНАРУЖЕНИЯ И ОЦЕНКИ ОСТАТОЧНЫХ НАПРЯЖЕНИЙ В КРИСТАЛЛАХ
ՖԻԶԻԿԱ
Keywords:
муаровые полосы, маятниковые полосы, линии изонапряжений дислокаций, “радиационные“ точечные дефекты
Abstract
Представлены результаты ранее реализованных экспериментов по изучению остаточных напряжений в кристаллах с применением рентгеноинтерферометрических методов. Обосновываются актуальность таких исследований, которые могут быть полезны при исследованиях полей напряжений в поликристаллических материалах. Приводятся также результаты последних экспериментальных работ, которые могут быть учтены при использовании монокристаллов в качестве подложек в современных интегральных схемах.
